PatentGrid は任意の表データを読み込んでそのまま集計処理を行うことができるパテントマップ作成支援ソフトです。

　最低３クリックで集計が完了するPatentGrid を用いれば、ごく日常的な作業としてデータの集計分析を行うことができます。

　PatentGrid はデータを選びません。

　多くのパテントマップソフトでは、あらかじめ入力データの書式を整形したり、データ項目を対応付けしてインポートしたり、と事前準備作業が必要ですが、PatentGridはどのような情報項目をもつ表データであっても、そのまま読み込んで集計処理を行うことができます。

　データソースの違いによる特許分類（IPC, FI, Fターム, 米国分類）の書式の相違は PatentGrid が吸収します。

　統一された区切り文字が用いられていさえすれば、特許データに限らずどのようなデータでも集計処理を行うことができます。






　各種文字コードに対応しており、日本語以外のデータでも原文のまま読み込んで集計することができます。




　読み込んだ表の編集機能も充実しています。

　とくに、正規表現による置換処理は、非定型データの加工・分析作業を強力に支援します。

縦軸は全て、横軸は最大２００位まで表示され、分布状況の特徴を視覚的に把握することができます。

集計画面では、表示する集計件数の切り替え（ＸＹ集計値／Ｚ軸の件数）や、該当レコードの抽出表示（ドリルダウン）など、多様な分析作業が可能となっています。



ドリルダウンされた表データは編集可能であり、評価情報や独自分類などを記入していくこともできます。

　一般に、パテントマップ作成ソフトはグラフ表示機能を備えていますが、調査報告書などを作成する際には、文書編集の便のため改めて Excelでグラフを作り直すことが少なくありません。

　そこで PatentGrid はあえてグラフ機能を省き、集計結果の２次利用支援機能を強化しています。
　　（別途グラフ作成ソフト XLG を用意しています。）





　内訳データ（Ｚ軸）の一覧を記載した表を貼り付けすることもできます。

PatentGrid にはIPCの分類定義データを収録しており、集計表上で分類定義を参照することができます。

さらに、別売の ClassMap や ClassEye を併せてお求めいただくと、これらソフトに付属する特許分類データを用いて分類定義を参照することができるようになります。
集計表をExcelへ貼り付ける際にも分類定義つきで貼り付けることができます。

Ver 4.0.2 (2016.01.29) patentgrid4_setup.exe　（試用可）